新型奧氏體晶粒度顯示劑流線偏析顯示液

簡要描述：新型奧氏體晶粒度顯示劑流線偏析顯示液用于鋼的奧氏體晶粒度、金屬流線、偏析顯示，滿足 GB/T 6394、

ASTM E 112標(biāo)準(zhǔn)。

更新時間：2024-09-23
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新型奧氏體晶粒度顯示劑流線偏析顯示液

新型奧氏體晶粒度顯示劑流線偏析顯示液，用于鋼的奧氏體晶粒度、金屬流線、偏析顯示，滿足 GB/T 6394、

ASTM E 112標(biāo)準(zhǔn)，具有以下特點：

1、替代飽和KWS試劑，安全；

2、不需二次熱處理，直接浸蝕，可顯示碳鋼、合金鋼的原奧氏體晶界，降低能耗，提高檢測效率；

3、弱腐蝕性，低毒性，使用安全。

表示晶粒大小的尺度叫晶粒度，常用單位體積（或單位面積）內(nèi)的晶粒數(shù)目或晶粒的平均線長度（或直徑）表示。工業(yè)生產(chǎn)上采用晶粒度等級來表示晶粒大小。標(biāo)準(zhǔn)晶粒度共分12級，1～4級為粗晶粒，5～8級為細(xì)晶粒，9～12級為超細(xì)晶粒度。

金屬結(jié)晶時，每個晶粒都是由一個晶核長大而成的，因此晶粒的大小取決于晶核的數(shù)目和晶粒長大速度的相對大小。晶核的數(shù)目用形核率表示。形核率越大，單位體積中晶核的數(shù)目越多，晶粒越細(xì)小。長大速度越小，長大過程中形成的晶核批次越多，晶核數(shù)目越多，因而晶粒越細(xì)小。反之，形核率越小而長大速度越大，則晶粒越粗大。因此晶粒度的大小取決于形核率N和長大速率G之比，比值N/G越大，晶粒越細(xì)小。