當前位置:首頁 >產(chǎn)品中心>激光粒度分析儀>大量程激光粒度儀>A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀
簡要描述:A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀,采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。低檢測下限可達0.08µm ,在全球同類產(chǎn)品中都處于先地位。大量程激光粒度儀A22的推出,可以替代之前Fritsch公司所生產(chǎn)的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀,讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效,使用更加便捷。
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德國Fritsch公司是實驗室樣品預處理和顆粒度分析的專家。
技術(shù)參數(shù):
主要特點:
1. 大量程激光粒度儀A22 MicroTec Plus,可替代以前的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀產(chǎn)品咨詢
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